IMU慣性傳感器芯片的封裝測試與測試座介紹
IMU慣性傳感器芯片的封裝測試與測試座介紹
3D加速度計傳感器是IMU的一種,IMU是InertialMeasurementUnit這是一個慣性測量單元,它包括三個傳感器:加速度計、陀螺儀和磁力儀。速度、方向和重力可分別測量。
IMU包括主流封裝QFN,SOP,BGA,LGA等等。我們需要分析如何匹配這類芯片的測試座:首先,我們需要了解芯片的相關(guān)情況,即芯片的特性和參數(shù)。這個芯片是一個可編程的加速度計,它的電壓在電流要求上是毫安級,低功耗產(chǎn)品,內(nèi)置溫度傳感和,可以檢測自由落體、動態(tài)跟蹤和磁極跟蹤。
IMU芯片測試
該芯片的工作環(huán)境為-40~85℃,這個范圍內(nèi)需要外部測試。而且這個芯片沒有高頻要求,所以對測試座的實際要求特別低。LGA其次,對上述芯片的性能和參數(shù)進行了分析,了解到對實際電流、電壓和頻率沒有特殊要求,因此使用常規(guī)探針進行匹配就足夠了。這些基本電源必須易于匹配。
IMU芯片測試
LGA16陀螺儀試驗座,33D加速度計傳感器的特點描述了它自己的用途XYZ溫度傳感器和磁性傳感器也在這三個方向的速度內(nèi)置。這些特點對試驗座的結(jié)構(gòu)設(shè)計和材料提出了很高的要求。所有的材料都需要盡可能沒有磁性。同時,由于芯片的溫度,需要對座椅的散熱和導(dǎo)熱性進行測試。最后,當芯片放置在測試座椅中時,芯片不能抖動,測試組的結(jié)構(gòu)也不能抖動,從而避免這3D翻轉(zhuǎn)或位移測試時,加速度計出現(xiàn)誤測。
IMU芯片測試
在谷易電子傳感器測試座的行業(yè)運用過程中,合金旋鈕測試座椅可以很好地固定IMU在合理的范圍內(nèi),避免芯片在測試過程中不必要的抖動,導(dǎo)致測試結(jié)果不符合預(yù)期LGA16測試座以上為本期3D如果您還想了解芯片測試座的相關(guān)知識,加速度計傳感器測試座的分析。
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